自2017年以来,曾益慧创与全国大学生集成电路创新创业大赛(以下简称集创赛)携手同行,至今已走过八载岁月。2025年,第九届集创赛"曾益慧创杯"秉持"以赛促教、以赛促学"的教育理念,带来“555定时器芯片的设计验证和测试”这一全新赛题。诚邀全国高等院校集成电路相关专业的师生们踊跃参与!
在集成电路的发展历程中,555定时器芯片占据着无可替代的关键地位。它宛如一位全能的幕后英雄,凭借强大性能,活跃于各个科技场景。从充满奇思妙想的智能玩具,到精准度要求极高的航天设备,处处烙印着它的技术痕迹。凭借每年超 10 亿颗的惊人产量,555 定时器芯片已成为集成电路产业稳健发展的中流砥柱。今年的曾益慧创杯以这一经典芯片为载体,精心设计赛题,带大家深入探索555定时器芯片的设计验证与测试环节。
555定时器芯片原理图、Die和8-Pin DIP封装芯片照片
对于学生而言,参与此次赛事,是深化专业知识理解的绝佳契机。在芯片设计、硅前测试验证、硅后测试验证以及量产测试等一系列实战环节中,半导体物理与器件、模拟电子技术和模拟集成电路设计等专业课程的知识点将不再仅仅停留在书本之上,而是通过实际操作融会贯通,动手实践能力也将得到全方位的锻炼。
第八届“曾益慧创杯”赛题广受好评。今年将沿用去年赛题的整体设计思路,精心设置三个阶段,紧密结合产业实际。参赛者将在这三个阶段中,一步步了解集成电路产业链全流程,探索其中的奥秘 。
初赛:EDA 设计舞台,开启芯片设计初体验
初赛阶段,参赛者需要在EDA工具的虚拟世界中大展身手,完成指定参数指标的555定时器芯片设计,并进行仿真验证。根据提交的芯片设计和设计验证报告评分晋级分赛区决赛。
分赛区决赛:基于IECUBE-3835平台,实物测试展身手
分赛区决赛中,参赛者将拿到基于分立元器件搭建的555定时器芯片内部电路板卡,不过部分器件处于空缺状态。此时,参赛者要在规定时间内基于IECUBE-3835半导体参数测试平台,完成空缺元器件的选型,并对整个电路进行现场测试,根据现场的测试电路搭建以及测试结果评分晋级全国总决赛。
全国总决赛阶段:基于通用平台开发,自动化测试创未来
全国总决赛的舞台上,参赛者将拿到含有555定时器芯片样片的Device Interface Board(DIB),并基于IECUBE-3100或IECUBE-3839集成电路研发及量产测试通用平台,完成芯片量产测试程序开发,实现芯片的自动化测试。
赛题培训:专家引领,培训赋能
今年我们已经举办了一场培训,点击下方链接,扫描直播海报上的观看二维码即可收看直播回放。七载耕耘,筑梦芯未来 | 2025 集创赛“曾益慧创杯”备赛直播即将开启
2024年第八届集创赛“曾益慧创杯”培训及参赛锦囊举例
设备试用:多地联动,远程无忧
部署在西安办公室供参赛学生远程试用的IECUBE-3835设备
曾益慧创杯赛题详细内容请至大赛官网查询
第九届集创赛曾益慧创杯通知群(钉钉群):88650021216
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