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IECUBE-3835一体化半导体测试平台

IECUBE-3835一体化半导体测试平台
什么是IECUBE-3835一体化半导体测试平台?

IECUBE-3835一体化半导体测试平台集混合信号示波器、信号发生器、数字万用表、直流电源、源测量单元SMU仪器、LCR测试仪器、数字I/O等各类半导体测试测量仪器硬件于一体,搭配IECUBE-3835半导体参数测试软件和IECUBE-3835实验测试对象使用,配套联合西安电子科技大学微电子学院国家级集成电路实验教学示范中心联合编写的实验教材,为微电子和集成电路专业的《半导体物理实验》、《半导体器件物理实验》和《半导体工艺检测实验》提供一整套高性价比的完整实验教学解决方案。

什么是IECUBE-3835一体化半导体测试平台?
产品特征
技术参数
适配实验
产品特征
技术参数

单晶硅非平衡少子寿命的测量

PN结的直流特性测试与分析

半导体材料的霍尔效应测试

肖特基势垒特性及其杂质的测量

BJT直流参数的测量

MOSFET直流交流参数的测量

BJT特征频率的测量

MOSFET动态开关特性测试

集成运算放大器的参数测量

半导体材料电阻率的四探针法测量

MOSFET的低频CV特性测量

数字集成电路单元的工艺流程设计

第三代半导体材料测试

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