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IECUBE-3832实验用半导体参数分析仪

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IECUBE-3832实验用半导体参数分析仪
产品概述
产品特征/适配实验
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什么是IECUBE-3832实验用半导体参数分析仪?

IECUBE-3832实验用半导体参数分析仪是一个与IECUBE-3831集成电路多功能实验基础平台配合使用的实验仪器，内置配套实验软件，对实验过程和结果进行呈现。

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工业级器件分析
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内嵌丰富的工业级主流电子器件（如MOSFET、III-V、JFET、TFT等）的教学相关工业信息，包含12大类，60小类器件曲线特性，并有超过100种曲线分析方法，对器件特性进行工业级分析。

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器件&工艺类实验基于IECUBE-3831集成电路多功能实验基础平台和IECUBE-3832实验用半导体参数分析仪完成，IECUBE-3831 集成电路多功能实验基础平台基于内嵌的器件&工艺仿真器仿真各类器件&工艺的特性，IECUBE-3832实验用半导体参数分析仪 配合实验软件对实验过程和结果进行呈现。

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